logo
Каталог
basket-button
0
Назад

FEI Quattro сканирующий микроскоп

Специалистам по закупкам
Отправить заявку: ecnk@ecnk.ru
 copy
Связаться с менеджером 8 800 777 18 43  telegram
truckСрок поставки 2 недели
Цена (вкл. НДС)
Цена по запросу
Уточнить цену
Техническим специалистам
Технические вопросы: support@ecnk.ru
 copy
Связаться с менеджером 8 800 777 18 43  telegram
Гарантия:
1 год
Наличие:
Уточняйте у менеджера
Способ доставки
cdekdelovye-linii
Описание
Особенности
Характеристики
Комплектация
Отзывы
Инструкции

Описание

FEI Quattro сканирующий микроскоп 

Сканирующий микроскоп FEI Quattro  представляет продукцию производства "Thermo Fisher Scientific". Установка является стационарным оборудованием и подлежит применению в лабораторных условиях. Применяется для научно-исследовательских работ в академических и промышленных лабораториях, не требует особого уровня подготовки операторов.
Микроскоп предназначен для различных сфер применения. Микроскоп полезен для анализа и ведения технологических процессов в металлургии, для контроля сварных швов, сверхпроводящих изделий и полезных ископаемых. В общем случае применим в геологии, биологии и в медицине. Вакуумные режимы позволяют не подготавливать образцы перед анализом и проводить исследования без дополнительных временных затрат. Высокое разрешение до 8 нм обеспечивается тетродной электронной пушкой с катодом из вольфрама и позволяет получать контрастные изображения благодаря детекторам с высокой чувствительностью.
Управление микроскопом реализовано при помощи интегрированного контроллера и ПЭВМ с применением специального программного обеспечения.  Программное обеспечение обладает закрытым доступом для защиты от несанкционированных действий со стороны пользователя во избежание нарушений метрологических характеристик.

Особенности

  • In situ исследование материалов в их естественном состоянии: уникальный FEG-SEM с высоким разрешением с режимом естественной среды (ESEM) .Минимизируйте время подготовки образца: низкий вакуум и режим ESEM позволяют получать изображения без зарядки с непроводящих и/или гидратированных образцов
  • Получайте всю информацию из любых образцов, используя одновременное отображение в SE и BSE во всех режимах работы
  • Анализ при температурах от -165 ° С до 1400 ° С с помощью крио, Пельтье и нагревательного столика для образцов
  • Отличные аналитические возможности с камерой, которая позволяет устанавливать до трех детекторов EDS (два из них разведены на 180 °), WDS и копланарной EDS / EBSD
  • Анализ непроводящих образцов: точные EDS и EBSD адаптированные под низкий вакуум, создаваемый с помощью сквозной откачки через линзу Quattro
  • Удобный и точный эвентцентрический столик с диапазоном наклонов в 105 ° для наблюдения образца с любых точек
  • Простое в использовании, интуитивно понятное программное обеспечение с руководством пользователя и функцией отмены
  • Новые инновационные решения: выдвижной детектор катодолюминесценции RGB (CL), нагревательный стол для высокого вакуума 1100 ° C и AutoScript на основе Python (API)

Характеристики

Наименование характеристики

Значение

Тип микроскопа

Сканирующий

Область применения

Материаловедение, Науки о живом, Образование. Междисциплинарные научные центры

Направление деятельности

2D-анализ, Биология, Междисциплинарный мультимодальный и мультимасшабный анализ

Объекты интереса

11 нм – 100 нм

Характеристики электронной пушки

Тип катода

Автоэмиссионный катод типа Шоттки

Максимальное разрешение, нм

1

Диапазон ускоряющего напряжения, В

200–30 000

Минимальная энергия приземления электронов, эВ

20

Максимальный ток зонда, нА

200


Комплектация

  • FEI Quattro сканирующий микроскоп
  • Онлайн-руководство пользователя
  • Руководство по эксплуатации
  • Программное обеспечение для дистанционного управления

Отзывы

5.0

5.0

1

4.0

0

3.0

0

2.0

0

1.0

0

5.0
Ксения21.04.2020
Комментарий: Сотрудник хорошо проконсультировал, мало кто разбирается в узконаправленном оборудовании, приятно удивлена

Инструкции

Рекомендация экспертов

Phenom ProX Thermo Scientific сканирующий микроскопPhenom ProX Thermo Scientific сканирующий микроскоп
Цена по запросу
FEI Verios сканирующий микроскопFEI Verios сканирующий микроскоп
Цена по запросу
Получите рекомендацию эксперта

FEI Quattro сканирующий микроскоп

Компания ЕЦНК занимается продажей качественного оборудования для осуществления контроля качества выпускаемых изделий на производстве. На сайте ECNK.ru вы можете купить FEI Quattro сканирующий микроскоп с поверкой по самой доступной цене в Москве.Мы предлагаем 3 варианта доставки: самовывоз, курьером или до терминала “Деловых линий” в вашем городе.
Наш адрес: ул. Вавилова, 79. Режим работы: Пн.-Пт. с 9:00 до 18:00.
Для того, чтобы заказать доставку по Москве:
  • позвоните по телефону +7 (499) 703-39-69;
  • напишите в WhatsApp на номер +7(981)125-98-20;
  • отправьте письмо на электронную почту ecnk@ecnk.ru
Также, вы можете заказать бесплатный звонок специалиста. Заполните форму обратной связи, укажите ФИО, номер телефона и адрес электронной почты.
Подпишитесь на нас чтобы быть в курсе новостей отрасли и расписания обучения